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NOTICIAS

INNOVALIA METROLOGY ESTARÁ PRESENTE EN 33BIEMH

19 de Febrero de 2026

En BIEMH, Innovalia Metrology presentará sus soluciones avanzadas de metrología industrial, con un enfoque claro en la integración del control dimensional directamente en los procesos productivos.

Entre las tecnologías destacadas estará CyberSpark, la nueva CMM diseñada para la inspección dimensional en línea. Esta solución permite llevar el control de calidad a pie de máquina, reduciendo tiempos de espera, eliminando desplazamientos innecesarios y minimizando cuellos de botella entre producción y sala de metrología. Gracias a su diseño compacto, robusto e intuitivo, CyberSpark ofrece alta precisión incluso en entornos industriales exigentes, facilitando la incorporación del control metrológico en el flujo diario de fabricación.

Con esta propuesta, Innovalia Metrology refuerza su apuesta por una industria más eficiente, conectada y orientada al control de calidad en tiempo real.

    19/02/2026Noticias

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